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光电子能谱表面分析和角分布
作者(年代):安德鲁·杰森由于控制自己许多不足自由度,参数多项式曲面设计,以满足特定的插入器或边界约束可能出现额外的不受欢迎的特性。现在的方法识别和纠正这些意外的表面特征是古老的和不足。为了确定这种异常的表面特征,本文讨论了大量的表面分析工具。其中常用的方法如等高线和高分辨率图像阴影显示基于直接射线追踪,以及一些尖端的技术,比如主曲率的地图集成曲率线显示的主要方向的变化,和表面的测地线路径的确定。非常低的入射角度发现从x射线折射和反射的影响,而这些原因增加四倍。表面之间的相对强度层。大量增加的理论也考虑在内,包括不均匀的x射线通量的影响,更准确的分光计接受功能,表面的不均匀分布层和表面粗糙度。数值计算也为正弦粗糙表面的具体情况。结果表明,只要表面都是一尘不染的,没有x射线阴影,粗糙表面强度和表面平滑强度是等价的。然而,它预计表面平滑,粗糙表面角分布会稍稍偏离分布如果表面层存在。
