原文
数量:22 (10)DOI: 10.37532 / 0974 - 7419.2022.22 .222 (10)光电子能谱表面分析和角分布
收到:2022年10月5日,手稿。tsac - 22 - 83127;编辑分配:2022年10月7日,PreQC没有。tsac - 22 - 83127 (PQ);综述:2022年10月21日,质检不。tsac - 22 - 83127 (Q);修改后:2022年10月23日,手稿没有tsac - 22 - 83127 (R);发表日期:2022年的10月25日。DOI: 10.37532 / 0974 - 7419.2022.22 .222 (10)
引用:杰森·a .光电子光谱学表面分析和角分布。肛门化学印第安纳j . 2022; 22 (10): 222。
文摘
由于控制自己许多不足自由度,参数多项式曲面设计,以满足特定的插入器或边界约束可能出现额外的不受欢迎的特性。现在的方法识别和纠正这些意外的表面特征是古老的和不足。为了确定这种异常的表面特征,本文讨论了大量的表面分析工具。其中常用的方法如等高线和高分辨率图像阴影显示基于直接射线追踪,以及一些尖端的技术,比如主曲率的地图集成曲率线显示的主要方向的变化,和表面的测地线路径的确定。非常低入射角度发现从x射线折射和反射的影响,而这些原因增加四倍。表面之间的相对强度层。大量增加的理论也考虑在内,包括不均匀的x射线通量的影响,更准确的分光计接受功能,表面的不均匀分布层和表面粗糙度。数值计算也为正弦粗糙表面的具体情况。结果表明,只要表面都是一尘不染的,没有x射线阴影,粗糙表面强度和表面平滑强度是等价的。然而,它预计表面平滑,粗糙表面角分布会稍稍偏离分布如果表面层存在。
关键字
定量分析;钝化;不锈钢
介绍
固体产品的研究在金属表面生成钝化surface-sensitive技术的发展中大大受益。最有效的技术包括俄歇电子能谱学,西姆斯和能谱(电子光谱学进行化学分析),通常称为XPS (x射线光电子能谱)(二次离子质谱法)。地面层的厚度和组成可以使用三种方法的任何一个决定。光电子能谱的好处是,它提供了知识的表面物种的化学条件。获得详细的元素分布利用俄歇分析和离子刻蚀的结合。它还允许在受限制的空间构成分析。薄的化学组成固体表感兴趣的进步促使薄膜技术(例如,使植入和分层以及基础研究(结构方面)(如反应在固体表面,扩散层,等等)。在许多情况下,详细的成分分布明显比组合作为一个整体更重要。这些“深度资料,”当我们引用的化学成分取决于深度可由任何方法,允许的分离分析细节关于垂直于坚固的地面的距离。x射线光电子的敏感性光谱学表面状况(XPS能谱)已经明显自第一测量这类,它立即导致需要特殊标本表面处理在某些情况下,选择的欲望非常惰性化学元素或化合物的研究在其他为了避免虚构的表面化学计量学的调查。此外,XPS表面应该成为这种灵敏度分析技术。特定的技能来分析自动清洁表面的化学成分和电子结构以及表面与气相时的物种。只有少数XPS的初步定量研究显示此功能到目前为止,它已经确定,检测能力的极限。
结论
在测试环境下没有x射线折射或反射,当这一切发生的时候,平面的基本假设模型角分布的形状是定性的,在某些情况下,定量实验的结果证实了。厚衬底上用一个统一的表层,与两个后续表面均匀层厚衬底,和一个干净、平坦的标本无限厚度都是这些预测的例子。此外,看来角分布的观测系统,遵循这个理论模型的预测就应该能够产生thickness-to-mean自由程比层,层和衬底的平均自由程比,和平均自由程动能的形状能源依赖。因此,除了独立的判断。
