摘要

金属多层膜的XRD, SEM和低温电输运

作者(年代):p。j。sadashivaiah, t。sujatha, t。sankarappa

研究了多层[Ni(100nm)/Fe(100nm)]3的结构和低温电阻率。电阻率随温度的升高而增大。测定了残余电阻率比(RRR)和温度电阻率系数(TCR)。建立了电阻率随温度的幂律变化规律。在T大于80K时，对电阻率的贡献主要是电子-声子散射和电子-声子散射，而在小于30K时，则主要是电子-电子散射和电子-缺陷散射。