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温度依赖的ESR谱辐照尼龙均聚物

作者(年代):s . Kalahasti Sanjeeva Rao, t . Venkatappa Rao j . Saptagiri Prasad k Madhukar和拉

温度依赖自由基衰减行为辐照尼龙均聚物调查了电子自旋共振(ESR)和傅里叶变换红外(FTIR)技术。尼龙的ESR谱观察辐照1 M rad辐射剂量显示一个复杂形状和八个超精细线条。频谱是由计算机模拟分析和解决组件由于巨自由基产生的光谱叠加CH2 -⋅C H-CH2 ~(我)和激进分子的类型~ CH2 -⋅C = O (II)。磁参数对应于自由基被理论评估方法。辐照尼龙的ESR谱也被记录在300 - 400 K温度范围内。观察到的超精细结构在室温下(RT)逐渐减少和ESR信号完全消失了405 K左右。原因温度依赖自由基衰变一直解释说。傅里叶变换红外(FTIR)光谱unirradiated和辐照尼龙长袜的记录确定化学变化引起的辐射。