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摘要

溶液摩尔浓度对SnO2薄膜电性能的影响

作者(年代):Sami Salmann Chiad, Saad Farhan Oboudi, Ghuson H.Mohamed, Nadir Fadhil Habubi

采用喷雾热解技术,在500℃的温度下成功地在预热的玻璃基板上沉积了不同物质量的氧化锡薄膜。考察了摩尔浓度对薄膜性能的影响。所有沉积的薄膜都通过各种技术进行了表征,如x射线衍射进行结构表征,重量差密度法进行厚度测量,两探针电导率测量进行电学表征。X射线衍射(XRD)结果表明,0.1 M五水氯化锡薄膜具有非晶态结构。当摩尔浓度增加到0.3 M和0.5 M时,薄膜呈沿(110)方向优先取向的多晶结构。结果表明,随着摩尔浓度的增加,电阻率显著增加。电导率随温度的变化随温度的升高而增大,并随摩尔浓度的增加而减小至0.5 m,活化能随摩尔浓度的增加而增大。霍尔测量表明,所有薄膜均为n型。电荷载流子浓度、霍尔迁移率、漂移速度和平均自由程随摩尔浓度的增加而减小。


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