摘要
CoxNi3-x(C2O4)3混合晶体的物理研究。XH2O
作者(年代):W.A.A.Bayoumy研究了coxni3 -x(C2O4)3.XH2O(x=0.0,0.57,1.15,1.83,2.40和3.0)在78-400K温度范围内的直流和交流电导率ï³介电常数ï³/,介电损耗ï¥ï′¯/和摩尔磁化率ï£ï)的温度依赖性。电导率(ï³)随着样品中镍含量的增加而增加。所有样本都观察到ï³-T-1关系的异常行为。在较低的温度下,电导率表现为半金属行为,并在费米能级附近的电子跳跃的基础上解释了导电。在低温下,交流电导率随频率增加ï³ac=Aï·s,其中s的值在0.30-0.63之间,这取决于温度和样品的组成。介电常数ï .¥/和?介电损耗ï¥ï′¯ï′¯ï′在样品的解离温度下显示出最大值。磁化率ï .£ï′均表现出反铁磁性。对所得结果进行了相关性分析和讨论。
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