摘要

硫酸盐离子对羟基磷灰石硅酸盐离子取代的影响

作者(年代):n.y.穆斯塔法，A.N.Al-Saifi, h.a.a azab, M.Kamel, M.A.Raizk

在25ï°C条件下，在不同浓度的硅酸盐和硫酸盐的存在下，采用湿化学沉淀法制备了几种羟基磷灰石粉体。采用化学分析、SEM、XRD和FTIR光谱对粉末进行了表征。羟基磷灰石结构中硫酸盐离子的取代使硅酸盐取代量增加了9.9% wt。硅酸盐和硫酸盐离子取代量的增加与碳酸盐离子取代磷酸盐和OHÂ -位点空位的增加有关。硅酸盐和硫酸盐的取代是通过三电荷补偿机制同时发生的。首先是;SiO4 4Â -基团取代PO4 3Â -基团，空位为OH位点。第二是;SiO4 4-和SO4 2Â -基团取代两个PO4 3Â -基团。三是;SiO4 4-和CO3 2Â -基团取代两个PO4 3Â -基团。